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CST-50冲击试样投影仪 金属uv试样缺口光学设备50倍
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产品: CST-50冲击试样投影仪 金属uv试样缺口光学设备50倍 
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CST-50冲击试样缺口投影仪可将V型或者U型试样放大50倍,设备满足国标和美标标准,整机发货,现货销售,欢迎咨询-

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产品概述

CST-50型冲击试样缺口投影仪本投影仪是我公司根据目前国内广大用户的实际需求和GB/T229-94《金属夏比缺口冲击试验方法》中对

冲击试样缺口的要求而设计、开发的一种专用于检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的专用光学仪器,CST-50型冲击试样缺口投

影仪是利用光学投影方法将被测的冲击试样V型和U型缺口标准样板图对比,以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格,其优点是操

作简便,检查对比直观,效率高。

技术参数
1 投影屏直径 180
2 工作台尺寸 方工作台 110×125
圆工作台 ∮90
工作台玻璃直径 ∮70
3 工作台行程 纵向 10mm
横向 10mm
升降 10mm
4 工作台转动范围 0~360º
仪器放大倍率 50×
物镜放大倍率 2.5×
投影物镜放大倍率 20×
光源(卤钨灯) 12V/100W
5 电源 220V/50Hz
6 外型尺寸 515×224×603mm(长×宽×高)
重量 约18kg

操作注意事项

对于夏比V型缺口冲击试验,由于试样V型缺口要求严格(试样缺口深2mm、呈45?角且试样缺口尖端要求R0.25±0.25),故在整个试验

过程中,试样的V型缺口加工是否合格成了关键问题,如果试样缺口的加工质量不合格,那么其试验的结果是不可信的,特别是

R0.25mm缺口尖端的微小变化(其公差带只有0.25mm)都会引起试验结果的陡跳,尤其是在试验的临界值时会引起产品报废或合格两种

截然相反的结果。为保证加工出的夏比V型缺口合格,对缺口的加工质量检验是一个重要的质量控制手段。


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